水槽式模擬靜電場(chǎng)實(shí)驗(yàn)儀 MKY-QM1

 本儀器由水槽、同步探測(cè)針和電源組成，電極采用銅鑄材料，鑄銅或黃銅加工成型后電鍍，*生銹。可做點(diǎn)電極，點(diǎn)線電極，同心圓電極，平行板電極，電場(chǎng)模擬描繪實(shí)驗(yàn)。該儀器具有成套性，無(wú)需另配儀表即可實(shí)驗(yàn)。  

主要用于實(shí)驗(yàn)室條件下測(cè)定紡織原料和制成品（含纖維、紗線、織物、地毯、裝飾織物）的靜電性能，也可用來(lái)測(cè)定其它片、板狀材料如紙張、橡膠、塑料、復(fù)合板材等的靜電性能。儀器主機(jī)由電暈放電裝置、探頭和檢測(cè)系統(tǒng)組成。利用給定的高壓電場(chǎng)，對(duì)被測(cè)試樣定時(shí)放電，使試樣感應(yīng)靜電，從而進(jìn)行靜電電量大小、靜電壓半衰期、靜電殘留量的檢測(cè)，以確定被測(cè)試樣的靜電性能。
1.測(cè)量前，首先應(yīng)檢查電源是否符合規(guī)定，儀器外殼（包括探頭外屏蔽筒）接地是否良好，儀器清零后，方可進(jìn)行測(cè)試。
2.測(cè)試探頭應(yīng)防止在與被測(cè)帶電物體表面垂直的某一股東的空間位置上（按儀器說(shuō)明說(shuō)指明的測(cè)試距離），測(cè)試距離變動(dòng)要引出很大測(cè)試誤差。為了避免被測(cè)帶電體與探頭外殼之間發(fā)生火花放電，開(kāi)始測(cè)量時(shí)，探頭必須先放置較遠(yuǎn)（離帶電體）的位置上，逐漸接近帶電體。
3.測(cè)試表面電位時(shí)，一般帶電體表面應(yīng)離接地體足夠遠(yuǎn)。如帶電體是薄片或薄膜狀，且背面又靠近接地體，當(dāng)探頭移向接地體附近時(shí)，由于局部電荷的感應(yīng)集中，有產(chǎn)生空間放電或表面放電的危險(xiǎn)。
4.當(dāng)帶電體的被測(cè)部位是較大的平板時(shí)，其測(cè)量值是較準(zhǔn)確的，但當(dāng)帶電體被測(cè)表面具有一定的曲率半徑時(shí)，測(cè)量值就與實(shí)際的電位值有較大差別了。
5.應(yīng)當(dāng)考慮儀器自身特性對(duì)測(cè)試精度的影響，使用前應(yīng)定期進(jìn)行校準(zhǔn)和標(biāo)定。
6.探頭屏蔽深度對(duì)測(cè)試準(zhǔn)確度有一定的影響，感應(yīng)式靜電場(chǎng)測(cè)試儀實(shí)質(zhì)上是對(duì)被測(cè)帶電體某一局部電場(chǎng)的測(cè)試，因而必須盡量減小外電場(chǎng)對(duì)測(cè)試信號(hào)的干擾和影響。通常的方法是把該類儀表及其探頭安裝在接地屏蔽的殼體內(nèi)，顯然探頭外屏蔽套筒過(guò)深會(huì)降低儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度，過(guò)淺容易受到外界電場(chǎng)影響。
7.通過(guò)測(cè)試物體表面電位時(shí)所得值，可作為定性參考，測(cè)量因各種因素影響，在實(shí)際工作中很難達(dá)到。
8.通常電子工業(yè)用的靜電電壓表要考慮測(cè)試精度，應(yīng)能測(cè)試到±10v的靜電電壓。

水槽式模擬靜電場(chǎng)實(shí)驗(yàn)儀 MKY-QM1